T/CSTM 01180.3-2024 锻件缺陷检测 第3部分：相控阵超声法

ICS 19.100
CCS J 04
团体标准
T/CSTM 01180.3—2024
锻件缺陷检测 第3部分：相控阵超声法
Defect testing of forgings - Part 3：Phased array ultrasonic testing
2024-10-31 发布2025-01-31 实施
中关村材料试验技术联盟发布

目次
前言................................................................................................................................................1
引言................................................................................................................................................2
1 范围..............................................................................................................................................3
2 规范性引用文件.......................................................................................................................... 3
3 术语和定义................................................................................................................................. 3
4 检测人员......................................................................................................................................4
5 检测方法......................................................................................................................................4
6 检测设备......................................................................................................................................5
7 试块..............................................................................................................................................5
8 检测条件......................................................................................................................................8
9 系统校准......................................................................................................................................9
10 灵敏度设置.............................................................................................................................. 10
11 检测..........................................................................................................................................10
12 质量等级................................................................................................................................. 10
13 检测报告................................................................................................................................. 12
附录A(规范性)横孔与平底孔的等效换算关系........................................................................... 13
附录B(资料性)起草单位和主要起草人........................................................................................14
T/CSTM 01180.3-2024
前言
本文件参照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则第1 部分：标准化文件的结构和起草规
则》，GB/T 20001.4-2015《标准编写规则第4 部分：试验方法标准》的规定起草。
本部分为T/CSTM 01180《锻件缺陷检测》的第3 部分。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国材料与试验标准化委员会综合标准化领域委员会(CSTM/FC99)提出。
本文件由中国材料与试验标准化委员会综合标准化领域委员会(CSTM/FC99)归口。
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引言
T/CSTM 01180《锻件缺陷检测》拟由三部分构成：
——第1 部分: 目视法。目的在于规定了锻件目视检测的方法和验收标准，以及直接目
视检测和间接目视检测的一般原则。
——第2 部分: 涡流法。目的在于规定了锻件表面和近表面涡流检测方法和验收标准。
——第3 部分: 相控阵超声法。目的在于规定了铁素体—马氏体钢锻件、奥氏体和奥氏
体—铁素体不锈钢锻件相控阵超声检测的方法和验收标准。
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锻件缺陷检测第3 部分：相控阵超声法
1 范围
本文件规定了铁素体-马氏体钢锻件、奥氏体和奥氏体-铁素体不锈钢锻件相控阵超声检
测的检测人员、检测方法、检测设备、试块、检测条件、系统校准、灵敏度设置、检测、质
量等级和检测报告。
本文件适用于采用一维线阵相控阵探头进行手动、半自动或全自动扫查的锻件超声检测。
采用二维面阵相控阵探头扫查的锻件超声检测也可参照执行。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期
的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括
所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测
GB/T 32563 无损检测超声检测相控阵超声检测方法
JB/T 11731
JB/T 11779
无损检测超声相控阵探头通用技术条件
无损检测仪器相控阵超声检测仪技术条件
ISO 9712 无损检测人员资格鉴定和认证(Non-destructive testing —
Qualification and certification of personnel)
ISO 18563.1 无损检测超声相控阵设备的性能与检验第1 部分： 仪器
（ Non-destructive testing— Characterization and verification of
ultrasonic phased array equipment —Part 1: Instruments）
ISO 18563.2 无损检测超声相控阵设备的性能与检验第2 部分： 探头
（ Non-destructive testing— Characterization and verification of
ultrasonic phased array equipment —Part 2: Probes）
3 术语和定义
GB/T 12604.1 和GB/T 32563 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
当量面积equivalent area
按平底孔换算的等效面积。
3.2
当量直径equivalent diameter
按横孔换算的等效直径。
3.3
当量腰宽equivalent waist width
按V 型槽换算的等效边长，如图1 所示。
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标引顺序说明：
w—当量腰宽，单位为mm
图1 当量腰宽示意图
3.4
近似相等声程approximately equal sound path length
等于（0.9～1.5）倍锻件声程的试块声程。
3.5
近似相等曲率半径approximately equal curvature radius
等于（0.9～1.5）倍管形锻件曲率半径的试块曲率半径。
4 检测人员
4.1 从事相控阵超声检测的人员应符合ISO 9712 或等效标准的要求，经过专门培训并取得
相应证书。
4.2 相控阵超声检测人员应掌握金属材料及其加工的基础知识，熟悉所使用的检测设备且
具有实际检测经验。
5 检测方法
5.1 检测方法分类
锻件相控阵超声检测分为纵波检测和横波检测两类。
5.2 纵波检测
5.2.1 纵波检测直接采用相控阵探头或采用带零度延迟块的相控阵探头对锻件进行垂直入
射纵波的线扫描检测或扇扫描检测。其中，纵波扇扫描检测的最大扫描角度为±30°。
5.2.2 除非供需双方另有协议，纵波检测应从锻件的两个相互垂直方向进行，并使声束尽可
能覆盖整个锻件体积。
5.2.3 当锻件厚度超过400 mm 时，纵波检测应从锻件相对的两个端面进行100%扫查。
5.3 横波检测
5.3.1 横波检测采用带斜楔的相控阵探头对锻件进行斜入射横波的扇扫描检测。横波扇扫描
检测的最大扫描角度为楔块折射角±20°。
5.3.2 除非供需双方另有协议，横波检测应从声束传播的两个相对方向进行，并使声束尽可
能覆盖整个锻件体积。
5.3.3 对于管形锻件，可以进行轴向扇扫描检测，用以探测周向缺陷；对于内外径之比大于
0.6 的管形锻件，可以进行周向扇扫描检测，用以探测轴向缺陷。除非供需双法另有协议，
针对管形锻件所要求的检测种类，检测应从声束传播的两个相对方向进行，轴向检测为向前
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和向后，周向检测为顺时针和逆时针。
6 检测设备
6.1 设备组成
相控阵超声检测设备包括仪器、探头和扫查装置等。检测设备的各组成部分或整体应有
制造商出具的产品合格证或文件。
6.2 仪器
6.2.1 仪器应为至少含有32 个独立物理通道的脉冲反射式相控阵仪器，且符合JB/T 11779
要求。仪器的垂直线性误差和水平线性误差等性能应满足ISO 18563.1 规定，并定期进行校
准。
6.2.2 仪器各发射通道的脉冲延时精度不大于5 ns。
6.2.3 仪器各接收通道的-3dB 带宽不窄于0.5 MHz～15 MHz，增益调节步长不大于1dB。
6.2.4 仪器相邻通道间的串扰隔离度大于30dB。
6.2.5 仪器至少具有A、B、C、S 型显示以及在扫描图像上对缺陷进行定位、定量分析的
功能，并能存储和拷贝A、B、C、S 型显示图像数据。
6.2.6 仪器具有聚焦法则计算功能以及ACG 校准（即ACG 修正）和TCG 校准（即TCG
修正）功能。
6.2.7 仪器应能外接编码器，以分辨扫查装置的相对位置信息。仪器的数据采集可与扫查装
置的移动相同步。
6.3 探头
6.3.1 线扫描探头的晶片数量应不少于32 个；扇扫描探头的晶片数量不少于8 个。
6.3.2 探头应符合JB/T 11731 要求。探头的平均中心频率、各晶片中心频率、-6dB 相对带
宽、晶片间灵敏度差值等性能应满足ISO 18563.2 规定，并经过校准。
6.3.3 探头失效晶片数量不应超过总晶片数量的12.5%，且不得存在连续失效晶片。当失效
晶片超过上述规定时，须通过控制激发孔径范围避开失效晶片，并能采用适当方法证明失效
晶片对检测灵敏度和信噪比无明显不利影响。
6.4 扫查装置
6.4.1 扫查装置用于装夹探头实现在锻件表面的移动检测。扫查装置可采用电动或人工驱动。
6.4.2 扫查装置可利用步进电机、伺服电机或位置传感器实现对探头移动位置的控制。扫查
装置的移动步距值应连续可调，最小步长不大于1 mm。探头位置的分辨力应满足检测工艺
要求。
6.4.3 扫查装置可使用导向装置，以确保探头运动轨迹与规划扫查轨迹相一致。
7 试块
7.1 校准试块
7.1.1 校准试块用于校准或评定相控阵超声检测设备。
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7.1.2 制作校准试块的材料的声学性能与被检锻件相近，材料中不应包含高于仪器电噪声电
平二倍波高的不连续性缺陷，且透声性良好，声波衰减不大于4 dB/m。
7.1.3 校准试块有五种类型：刀形试块、半圆试块、矩形试块、横孔试块、平底孔试块。五
类校准试块中的每一种均为尺寸不同的系列试块，用于供不同厚度锻件检测时选用。
a）刀形试块：刀形试块如图2 所示。系列刀形试块R 值的推荐尺寸为50mm、100mm、
150mm、200mm、………；W 值的推荐尺寸为40mm，但应满足W≥2×探头宽度+20mm。刀
形试块上有两个同心圆弧：R1=R /2、R2=R；试块上刻度线的零点位于试块表面两个圆弧的
圆心。
标引符号说明：
R—试块半径（对应最大声程）；
W—试块宽度；
L—试块右端的台阶长度，为50mm。
图2 刀形试块
b）半圆试块：半圆试块如图3 所示。系列半圆试块R 值的推荐尺寸为50mm、100mm、
150mm、200mm、………；W 值的推荐尺寸为40mm，但应满足W≥2×探头宽度+20mm。半
圆试块上有两个同心圆弧：R1=R /2、R2=R；试块上刻度线的零点位于试块表面两个圆弧的
圆心。
标引符号说明：
R—试块半径（对应最大声程）；
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W—试块宽度。
图3 半圆试块
c）矩形试块：矩形试块如图4 所示。系列矩形试H 值的推荐尺寸为25mm、50mm、100mm、
150mm、200mm、………；W 值的推荐尺寸为20mm，但应满足W≥探头宽度+10mm。
标引符号说明：
H—试块厚度；
W—试块宽度。
图4 矩形试块
d）横孔试块：横孔试块如图5 所示。系列横孔试块H 值的推荐尺寸为50mm、100mm、
150mm、200mm、………；W 值的推荐尺寸为20mm，但应满足W≥探头宽度+10mm。横孔
试块中有三个不同深度、相同直径的横孔：1#横孔距探测面H /3，2#横孔距探测面2H /3，
3#横孔距探测面H；横孔直径可选Φ1.0mm～Φ3.0mm，推荐采用Φ3.0mm。
标引符号说明：
H+20—试块厚度；
W—试块宽度。
图5 横孔试块
e）平底孔试块：平底孔试块如图6 所示。系列平底孔试块H 值的推荐尺寸为50mm、
100mm、150mm、200mm、………；W 值的推荐尺寸为20mm，但应满足W≥探头宽度+10mm。
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平底孔试块中有三个不同高度、相同直径的平底孔：1#平底孔距探测面H /3，2#平底孔距探
测面2H /3，3#平底孔距探测面H；平底孔直径可选Φ1.0mm～Φ3.0mm，推荐采用Φ3.0mm。
标引符号说明：
H+20—试块厚度；
W—试块宽度。
图6 平底孔试块
7.2 对比试块
7.2.1 用途
对比试块用于设置锻件相控阵超声检测灵敏度。
7.2.2 材质
制作对比试块的材料的声学性能与被检锻件相同或相近。对比试块的选材可以是以下任
一种方式：
——被检锻件的多余长度部分；
——与被检锻件同钢种、同热处理状态的材料。
7.2.3 形状尺寸
对比试块应与被检锻件形状相同，且具有近似相等曲率半径和/或近似相等声程。
7.2.4 人工反射体
人工反射体要求如下：
a）对比试块中应包含能覆盖整个检测深度的反射体。横波和纵波扇扫描检测用对比试
块中的反射体为横孔；纵波线扫描检测用对比试块中的反射体为平底孔。
b）横波扇扫描检测管形锻件用对比试块中的反射体为内、外表面V 型槽。槽的方向沿
轴向或周向；槽的深度为被检锻件标称壁厚的3%或6.4mm，取其中较小者；槽的长度为
25.4mm。
8 检测条件
8.1 锻件表面无凹凸不平。锻件扫查表面无油漆、氧化皮、干结的耦合剂或任何其他引起
耦合失效、阻碍探头移动及引起检测误判的异物。
8.2 在检测准备阶段（包括系统校准和灵敏度设置）和锻件检测阶段，应使用相同型号的
耦合剂。检测结束后，如果耦合剂的存在影响锻件后道生产工序或成品的完整性，则应予清
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除。锻件检测适用的耦合剂包括水（可含防腐蚀剂和/或软化剂等）、油脂、油、甘油和水质
浆糊。
8.3 对于质量等级1、2 的检测，锻件表面粗糙度应达到Ra≤12.5μm；对于质量等级3 或更
高要求的检测，锻件表面粗糙度应达到Ra≤6.3μm。
8.4 当锻件表面状态较差时，可使用喷丸、喷砂或研磨的方法加以改善，以确保声波良好
耦合。上述锻件表面处理方法只适用于质量等级1 的检测。
8.5 检测温度应符合如下要求：
a）采用常温探头和耦合剂时，锻件表面温度范围应为0℃～60℃；
b）校准试块和对比试块与被检锻件的温度差应控制在±14℃之内；
c）若检测前预测锻件温度超出上述范围，应通过实验验证设备的适用性以及检测的可
操作性和可靠性；
d）若检测过程中锻件温度变化超出上述范围，应评价温度变化对检测结果的影响。
9 系统校准
9.1 一般要求
9.1.1 为了使仪器的显示数据和检测结果准确，在实施检测前应对相控阵超声系统进行校准。
系统校准分为四个步骤，依次为声速校准、延时校准、ACG 校准和TCG 校准。
9.1.2 在进行系统校准时，对于四个校准种类，均应选用近似相等声程的校准试块。
9.2 声速校准
9.2.1 对扇扫描进行声速校准时，使用刀形试块（或半圆试块）（见图2、图3），使声束
入射到两个半径R1、R2 同心圆的交界处，调节仪器角度指针至设置的扇扫描范围中心角度
（如横波扇扫范围30°～70°则调节角度指针至50°；如纵波扇扫范围-30°～30°则调节角度指
针至0°），前后移动探头找到两个同心圆弧面的最大反射回波，利用闸门分别套住回波，
仪器根据两个回波的时间差计算出声速。
9.2.2 对线扫描进行声速校准时，使用矩形试块（见图4），使入射声束在试块上下表面之
间多次反射，利用闸门分别套住一次背面回波和二次背面回波，仪器根据两个回波的时间差
计算出声速。
9.3 延时校准
9.3.1 探头延时激发每个晶片形成扇扫声束或线扫声束，声束经过匹配层、斜楔（或延迟块）
和耦合层到达锻件表面。虽然仪器在初始设置聚焦法则时输入了探头和斜楔（或延迟块）等
相关参数，但是输入参数与实际参数的误差、斜楔（或延迟块）磨损以及耦合剂等因素均会
影响延时结果。延时校准用以消除理论延时与实际延时的差异。
9.3.2 对扇扫描进行延时校准时，仪器设置“声程”校准模式，使用刀形试块（或半圆试块）
（见图2、图3），使声束入射到试块R1 圆弧面，前后移动探头，通过仪器“校准”使扇扫中
心声线的回波声程读数与R1 值相等。
9.3.3 对线扫描进行延时校准时，仪器设置“深度”校准模式，使用矩形试块（见图4），通
过仪器“校准”使探头的底面回波声程读数与试块厚度H 值相等。
9.3.4 在进行延时校准时，声束的最高回波应低于90%。
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9.4 ACG 校准
9.4.1 ACG 校准通过仪器对相同声程、不同角度处相同尺寸反射体回波的增益补偿，使之
达到相同幅值（一般为80%）的一条直线。
9.4.2 对扇扫描进行ACG 校准时，使用刀形试块（或半圆试块）（见图2、图3）并使声
束入射到试块R1 圆弧面，前后移动探头使扇扫中心声线的回波声程读数与R1 值相等，然后
对不同角度声线的回波进行增益补偿，使之达到相同幅值。
9.5 TCG 校准
9.5.1 TCG 校准通过仪器对不同深度处相同尺寸反射体回波的增益补偿，使之达到相同幅
值（一般为80%）的一条直线。
9.5.2 对扇扫描进行TCG 校准时，使用横孔试块（见图5），前后移动探头并利用闸门分
别锁定3 个不同深度横孔的最大反射回波，通过仪器增益补偿使不同深度横孔的回波达到相
同幅值并绘制TCG 曲线。
9.5.3 对线扫描进行TCG 校准时，使用平底孔试块（见图6），前后移动探头并利用闸门
分别锁定3 个不同高度平底孔的最大反射回波，通过仪器增益补偿使不同高度平底孔的回波
达到相同幅值并绘制TCG 曲线。
9.5.4 对于TCG 校准，增益补偿后最大声程处反射体回波的信噪比不应小于6dB。
10 灵敏度设置
10.1 灵敏度设置步骤如下：
a）当量波高进行的灵敏度设置：对于线扫描检测和扇扫描检测，将近似相等声程对比
试块中最大深度反射孔的回波调至满屏的80%作为基准灵敏度；
b）当量直径进行的灵敏度设置：对于线扫描检测和扇扫描检测，将最大深度的人工伤
回波调至满屏的适当高度，通过调试线扫或扇扫图形的人工伤尺寸为实际的人工伤直径的增
益作为检测灵敏度；
c）当量腰宽进行的灵敏度设置：对于线扫描检测和扇扫描检测，将最大深度的V 型槽
试块回波调至满屏的适当高度，通过调试线扫或扇扫图形的V 型槽人工伤尺寸为实际的V
型槽腰宽度的增益作为检测灵敏度。
10.2 对于曲面锻件检测，如果检测面的曲率半径小于等于250 mm，ACG 校准或TCG 校
准应在与检测面曲率相同或相近（即（0.9～1.5）倍锻件曲率范围内）的对比试块上进行。
10.3 锻件的表面耦合损失和材质衰减应与对比试块相同，否则应在灵敏度设置时进行传输
损失补偿。当最大声程的传输损失差不大于2 dB 时，可不进行补偿。
11 检测
11.1 应根据锻件厚度，所选探测面，以及检测灵敏度、分辨力和信噪比的要求，决定是否
对锻件进行分区检测以及各分区的覆盖范围。
11.2 锻件检测灵敏度可在基准灵敏度的基础上提高6 dB。
11.3 当要求对锻件进行全体积检测时，应使探头对锻件表面进行100%的覆盖扫查，且相
邻探头扫查轨迹之间有不小于10%的重叠。
12 质量等级
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12.1 除非供需双方另有协议，铁素体-马氏体钢锻件、奥氏体以及奥氏体-铁素体不锈钢锻
件的相控阵超声检测分为四个质量等级，参见表1、表2 和表3 所示。
注：不同质量等级可以应用于同一锻件不同部位的检测评级。
12.2 对管形锻件的扇扫描检测结果不进行质量分级，仅给出合格与不合格的结论。判定检
测结果合格的方法如下：
a）锻件中未出现一个波高超过基准灵敏度的当量腰宽显示；
b）锻件中未出现二个或二个以上彼此间距在13mm 以内、波高超过50%基准灵敏度的
当量腰宽显示。
表1 铁素体-马氏体钢锻件的质量等级、记录水平和验收标准
线扫描检测扇扫描检测
参数
质量等级
参数
质量等级
1 2 3 4 1 2 3 4
记
录
水
平
当量面积/mm2 ＞50 ＞20 ＞7 ＞3 记
录
水
平
当量直径/mm
b
＞0.8 ＞3 ＞0.8 ＞3 ＞0.4 ＞0.8
底波降低系数≤0.1 ≤0.3 ≤0.5 ≤0.6
验
收
标
准
单个点状缺陷的
当量面积/mm2 ≤113 ≤50 ≤20 ≤7 验
收
标
准
a
单个的缺陷的当
量直径/mm ≤3 ≤12 ≤3 ≤12 ≤1.6 ≤3
长条或密集点状
缺陷的当量面积
/mm2
≤50 ≤20 ≤7 ≤3
长条或密集点状
缺陷的当量直径
/mm
≤0.8 ≤3 ≤0.8 ≤3 ≤0.4 ≤0.8
注：底波降低系数用于表征由于锻件中存在缺陷引
起的底波衰减程度。底波降低系数r 的算法为：
式中：
Fn 为缺陷处的第n 次底波幅度；，
Fo,n 为距缺陷最近的正常区域的第n 次底波幅度。
当锻件厚度t≥60mm 时，取n=1；当锻件厚度t＜
60mm 时，取n=2。
如果底波衰减系数超过记录水平，应对疑似缺陷
处做进一步检测。
a 以Φ3mm 横孔为准。
b 扇扫描检测不适用于质量等级1。
表2 奥氏体和奥氏体-铁素体不锈钢锻件线扫描检测的质量等级、记录水平和验收标准
锻件厚度t
/mm
当量面积的记录水平
/mm2
验收标准
单个缺陷的当量面积/mm2 长条或密集缺陷的当量面积/mm2
质量等级1
t≤75 ＞20 ≤50 ≤20
75＜t≤250 ＞50 ≤95 ≤50
250＜t≤400 ＞154 ≤283 ≤154
t＞400 底波损失80%的指示底波完全损失的指示
质量等级2
t≤75 ＞7 ≤20 ≤7
75＜t≤250 ＞20 ≤50 ≤20
250＜t≤400 ＞50 ≤95 ≤50
400＜t≤600 ＞95 ≤177 ≤95
t＞600 底波损失80%的指示使底波完全损失的指示
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质量等级3
t≤75 ＞3 ≤7 ≤3
75＜t≤250 ＞7 ≤20 ≤7
250＜t≤400 ＞20 ≤50 ≤20
400＜t≤600 ＞50 ≤95 ≤50
t＞600 底波损失80%的指示底波完全损失的指示
注：底波完全损失是指底波小于正常底波幅度的5%或底波小于等于草状回波。
表3 奥氏体和奥氏体-铁素体不锈钢锻件扇扫描检测的记录水平和验收标准
锻件厚度t
/mm
当量直径记录水平
/mm
验收标准
单个缺陷的当量直径
/mm
长条或密集缺陷的当量直径
/mm
t≤75
＞0.4 ≤1.6 ≤0.4
＞0.8 ≤3 ≤0.8
75＜t≤250
＞0.8 ≤3 ≤0.8
＞3 ≤12 ≤3
250＜t≤400
＞3 ≤12 ≤3
＞12 ≤48 ≤12
注1：厚度大于400mm 锻件的验收标准由供需双方协商决定；
注2：以Φ3mm 横孔为准。
12.3 检测记录要求
检测记录要求如下：
a）对平面锻件检测时，记录水平按照表1、表2 和表3 的要求；
b）对管形锻件检测时，应记录大于等于0.8mm 当量腰宽的回波信号。
13 检测报告
检测报告至少应包括如下内容：
a) 委托单位；
b) 本文件编号；
c) 被检工件：名称、编号、规格、材质和热处理状况等；
d) 检测设备：仪器型号及编号、扫查装置包括编码器、试块、耦合剂；
e) 检测条件：检测工艺卡编号、探头参数及楔块选择、扫查方式、聚焦法则的设定、
检测使用的波型、检测系统的设置、角度增益修正文件、温度；
f) 检测示意图：探头扫查表面、检测区域以及所发现的缺陷位置和分布；
g) 检测数据：缺陷位置与尺寸、质量级别及缺陷部位的图像；
h) 检测结论；
i) 检测人员和责任人员签字；
j) 检测日期。
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附录A
(规范性)
横孔与平底孔的等效换算关系
A.1 本附录介绍采用相控阵纵波扇扫描探测横孔与线扫描探测平底孔的等效换算关系。为简
化计，以下用单晶直探头代替相控阵探头。
A.2 本附录给出的换算关系适用于反射体（横孔、平底孔）声程大于等于3 倍探头近场长度
的检测。
A.3 当横孔直径DSDH≥2λ、横孔长度大于-20dB 声束宽度时，横孔直径与平底孔直径的等效
关系按公式（A.1）计算：
4
FBH
SDH 2
D 4.935D
 x

......................(A.1 )
式中：
DSDH_—横孔直径，单位为mm；
DFBH—平底孔直径，单位为mm；
λ—波长，单位为mm；
x—声程，单位为mm。
A.4 表A.1 给出了采用2.5MHz、Φ20mm 单晶直探头检测时，横孔与平底孔之间等效关系的
实例。
表A.1 横孔与平底孔之间等效关系
单位：mm
平底孔直径
深度横孔直径
6 7 8 9 10
200 5.74 10.64 18.15 29.07 44.30
300 / 7.09 12.10 19.38 29.54
400 / 5.32 9.07 14.53 22.15
500 / / 7.26 11.63 17.72
600 / / 6.05 9.69 14.77
700 / / 5.18 8.30 12.66
800 / / / 7.27 11.08
900 / / / 6.46 9.85
1000 / / / 5.81 8.86
T/CSTM 01180.3-2024
附录B
(资料性)
起草单位和主要起草人
本文件负责起草单位：南京迪威尔高端制造股份有限公司
本文件参与起草单位：钢研纳克检测技术股份有限公司、汕头超声电子股份有限公司、
上海珉瑞教育科技有限公司、洛阳LYC 轴承有限公司、张家港广大特材股份有限公司、安
徽工业大学、合肥创之海机械制造有限公司。
本文件主要起草人：陈昌华、张利、徐正茂、陈庆勇、时飞扬、胡家豪、张建卫、范弘、
张广新、詹红庆，杨贵德，付汝龙，陈建华，高宇豪、丁伟臣、陈翠丽、于广文、袁明、陈
继平、李文革、李子涵。