GB/T 44924-2024 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法

中华人民共和国国家标准
ICS 31.200
CCS L 56
GB/T 44924—2024
半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法
Semiconductor integrated circuits—
Measuring methods for RF transmitter/receiver
2024⁃12⁃31 发布2025⁃04⁃01 实施
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
发 布

目　　次
前言··························································································································Ⅲ
1　范围·······················································································································1
2　规范性引用文件········································································································1
3　术语和定义··············································································································1
4　一般要求·················································································································4
4.1　总则·················································································································4
4.2　环境要求···········································································································4
4.3　测试条件···········································································································4
4.4　测试系统及仪器设备····························································································4
4.5　测试注意事项·····································································································5
5　详细要求·················································································································5
5.1　动态功耗Pa（mW）································································································5
5.2　功率增益GP（dB）·································································································6
5.3　功率增益平坦度ΔGP（dB）····················································································10
5.4　线性功率增益GPLIN（dB）·······················································································11
5.5　线性功率增益平坦度ΔGPLIN（dB）···········································································11
5.6　输出功率Po（dBm）·····························································································12
5.7　抗烧毁功率PKSH（dBm）························································································13
5.8　效率η（%）········································································································14
5.9　功率增益可调范围GR（dB）··················································································15
5.10　镜像抑制比RIMJ（dBc）························································································16
5.11　谐波抑制比RHR（dBc）························································································17
5.12　本振抑制比RLO（dBc）························································································18
5.13　边带抑制比RSB（dBc）·························································································19
5.14　杂散抑制比RFS（dB）··························································································20
5.15　P_NdB 压缩点CP⁃N（dBm）··················································································21
5.16　输出二阶互调截止点OIP2（dBm）·········································································23
5.17　输入二阶互调截止点IIP2（dBm）··········································································26
5.18　输出三阶互调截止点OIP3（dBm）·········································································26
5.19　输入三阶互调截止点IIP3（dBm）··········································································28
5.20　通道建立时间tON（ns）·························································································29
5.21　通道关断时间tOFF（ns）························································································30
5.22　收发切换时间tTR······························································································31
5.23　噪声系数NF（dB）·····························································································34
5.24　端口回波损耗RL（dB）/电压驻波比VSWR·····························································37
5.25　端口阻抗Z（Ω）·································································································40
5.26　群时延tGD（ns）··································································································41
5.27　带内相位非线性PNL（°）·····················································································42
5.28　噪声基底NFL（dBm/Hz）·····················································································43
5.29　本振泄漏LOL（dBm）························································································44
5.30　幅度稳定度ΔAPo（dB）·······················································································45
5.31　相位稳定度Δθ（°）·····························································································46
5.32　通道间相位一致性PSER（°）··················································································47
5.33　通道间幅度一致性AMER（dB）··············································································50
5.34　I/Q 相位误差PEIQ（°）························································································51
5.35　I/Q 幅度误差AEIQ（dB）·····················································································53
5.36　调制精度EVM（%）···························································································54
5.37　邻信道功率抑制比ACPR（dB）·············································································55
5.38　通道隔离度KISO（dB）·························································································56
5.39　载波泄露CL（dB）·····························································································58

前　　言
本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则　第1 部分：标准化文件的结构和起草规则》的规
定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会（SAC/TC 599）归口。
本文件起草单位：中国电子科技集团公司第二十四研究所、重庆西南集成电路设计有限责任公司、
中国电子科技集团公司第十四研究所、中国电子科技集团公司第三十八研究所、成都振芯科技股份有
限公司、深圳市晶峰晶体科技有限公司。
本文件主要起草人：苏良勇、王露、唐景磊、阳润、戚园、刘丹、许娟、苏巧、陈翔、刘晓政、范超、高青。

1　范围
本文件规定了半导体集成电路射频发射器和接收器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原
理和测试程序。
本文件适用于具有接收功能、发射功能、收发一体功能的一次变频射频发射器/接收器，其他类型
的发射器和接收器可参考使用。
2　规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文
件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于
本文件。
GB/T 4937.1—2006　半导体器件　机械和气候试验方法　第1 部分：总则
GB/T 9178　集成电路术语
3　术语和定义
GB/T 9178 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
动态功耗　dynamic power consumption
器件输入端有激励信号且输出端有负载工作时，所消耗的总功率。
3.2
功率增益　gain
器件工作在规定的输入/输出功率条件下，输出功率与输入功率的比值。
3.3
功率增益平坦度　gain flatness
器件在规定的频率范围内和规定的输入/输出功率条件下，最大功率增益与最小功率增益的差值。
3.4
线性功率增益　linear gain
器件工作在输出功率变化量和输入功率变化量相同的区域，输出功率与输入功率的比值。
3.5
线性功率增益平坦度　linear gain flatness
器件在规定的频率范围内，在输出功率变化量和输入功率变化量相同的区域，最大线性功率增益
与最小线性功率增益的差值。
3.6
输出功率　output power
器件在规定的输入功率条件下，测得的输出功率。
1
GB/T 44924—2024
3.7
抗烧毁功率　anti⁃burnout power
在规定的时间内，器件输入端口所能承受的最大规定功率。
3.8
效率　efficiency
在器件规定的输出功率条件下，输出功率与动态功耗的比值。
3.9
功率增益可调范围　gain adjustable range
器件在规定条件下，最大功率增益与最小功率增益的差值。
3.10
镜像抑制比　image rejection ratio
射频信号的中频输出功率和对应镜频信号下的中频输出功率的差值。
3.11
谐波抑制比　harmonics rejection ratio
基波信号功率与其谐波信号功率的差值。
3.12
本振抑制比　local oscillator rejection ratio
基波信号功率与本振信号功率的差值。
3.13
边带抑制比　side⁃band rejection ratio
基波信号功率与边带信号功率的差值。
3.14
杂散抑制比　spurs rejection ratio
基波信号功率与规定频率范围内最大杂散信号功率的差值。
3.15
P_NdB 压缩点　P_NdB compression point
随输入功率的增加，器件功率增益较线性功率增益下降NdB 时的输入/输出功率。
3.16
输出二阶互调截止点　output of interception point of 2nd order product
基波信号输出功率与其二阶互调输出功率相等时的功率。
3.17
输入二阶互调截止点　input of interception point of 2nd order product
输出二阶互调截止点与线性功率增益的差值。
3.18
输出三阶互调截止点　output of interception point of 3rd order product
基波信号输出功率与其三阶互调输出功率相等时的功率。
3.19
输入三阶互调截止点　input of interception point of 3rd order product
输出三阶互调截止点与线性功率增益的差值。
3.20
通道建立时间　turn⁃on time
器件在控制信号作用下，通道开启到正常工作状态所需要的时间。
2
GB/T 44924—2024
3.21
通道关断时间　turn⁃off time
器件在控制信号作用下，通道关断所需要的时间。
3.22
收发切换时间　transceiver switching time
器件在控制信号作用下，从接收工作状态到发射工作状态或发射工作状态到接收工作状态所需要
的时间。
3.23
噪声系数　noise figure
输入信噪比与输出信噪比的比值。
3.24
端口回波损耗/电压驻波比　return loss/voltage standing⁃wave ratio
端口反射信号与输入信号的功率比值。
3.25
端口阻抗　impedance
输入/输出端口的阻抗。
3.26
群时延　group delay
规定带宽内信号时延的波动。
3.27
带内相位非线性　phase non⁃linearity
规定带宽内，相频曲线相对于线性相位的波动。
3.28
噪声基底　noise floor
指定频率范围内单位带宽噪声功率。
3.29
本振泄漏　local oscillator leakage
本振信号泄漏至其他端口的功率。
3.30
幅度稳定度　amplitude stability
幅频特性随工作时间的变化量。
3.31
相位稳定度　phase stability
相频特性随工作时间的变化量。
3.32
通道间相位一致性　phase consistency
不同通道间相频特性的差异。
3.33
通道间幅度一致性　amplitude consistency
不同通道间幅频特性的差异。
3.34
I/Q 相位误差　quadrature phase error
I/Q 信号相位差与正交信号理论相位差的差值。
3
GB/T 44924—2024
3.35
I/Q 幅度误差　quadrature gain error
I/Q 信号幅度差。
3.36
调制精度　error vector magnitude
调制信号的矢量幅度误差。
3.37
邻信道功率抑制比　adjacent channel power ratio
主信道信号功率与邻信道信号功率的差值。
3.38
通道隔离度　channel isolation
通道间信号泄露的抑制度。
3.39
载波泄露　carrier leakage
调制信号功率与泄露的载波信号功率的差值。
4　一般要求
4.1　总则
器件测试的具体要求在详细规范中规定，若不指明出处，本文件中使用“按规定”或“规定”一词时，
指按相关详细规范的规定。
4.2　环境要求
除另有规定外，所有测试应在GB/T 4937.1—2006 中第4 章规定的环境条件下进行。
4.3　测试条件
除非另有规定，器件参数的测试应在符合器件详细规范的如下条件中进行：
a） 环境温度；
b） 工作电压；
c） 控制电平；
d） 本振端口频率和功率；
e） 输入端口频率和功率。
4.4　测试系统及仪器设备
测试系统及仪器设备要求如下：
a） 测试时应考虑在规定条件下测试电缆、衰减器、功放及滤波器等引入的误差；
b） 测试用仪器的准确度应符合测试规定要求，校准合格，并在有效期内；
c） 信号源、频谱仪和网络分析仪均需参考同步；
d） 测试设备应按照说明书规定的预热时间充分预热，如说明书没有规定预热时间，一般预热时
间为30 min；
e） 测试设备应接地良好。
4
GB/T 44924—2024
4.5　测试注意事项
测试期间，应遵循以下事项：
a） 若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度应符合器件详细规范的规定；
b） 测试期间需注意外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范
的规定；
c） 测试期间，施于被测器件的电参量的精度应符合器件详细规范的规定；
d） 被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件；
e） 若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源；
f） 测试期间，被测器件应满足阻抗匹配要求并避免出现自激现象；
g） 测试期间，应对被测器件进行静电防护；
h） 被测器件功耗大时，温度敏感参数应在上电后尽快测试或采用合理散热方式后测试；
i） 若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，需考虑各步之间时间间隔过长造成的环境
变化因素；
j） 除非另有说明，本文件电路图所示设备的输入/输出端口阻抗均为50 Ω；
k） 对于晶圆测试，应使用匹配的测试工装进行测试；
l） 测试采用的电源电压、纹波及电源噪声电平等应满足器件测试要求；
m） 本文件中所有的修正或补偿均校准到被测器件的测试端面。
5　详细要求
5.1　动态功耗P（a mW）
5.1.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输入端有激励信号且输出端有负载工作时，所消耗的总功率。
5.1.2　测试原理
由公式（1）计算动态功耗：
Pa = VCC × Ia …………………………（ 1 ）
式中：
Pa ——动态功耗，单位为毫瓦（mW）；
VCC——施加给被测器件的工作电压，单位为伏（V）；
Ia ——电流表测得的被测器件工作电流，单位为毫安（mA）。
Pa 的测试原理框图见图1。
5
GB/T 44924—2024
标引序号说明：
A ——电流表；
V ——电压表；
Ia ——电流；
VCC ——电压；
IN ——信号输入端口；
OUT——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图1　动态功耗Pa 测试原理框图
5.1.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图1 所示的测试系统；
b） 接通电源，电源电压记为VCC；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 测得电压表的电压VCC，测得电流表的电流Ia；
e） 由公式（1）计算动态功耗Pa。
5.1.4　测试设备
见4.4。
5.1.5　规定条件
见4.3。
5.2　功率增益GP（dB）
5.2.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出功率与输入功率的比值。
5.2.2　方法一
5.2.2.1　测试原理
由公式（2）计算功率增益：
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GB/T 44924—2024
GP = Po - Pi …………………………（ 2 ）
式中：
GP——功率增益，单位为分贝（dB）；
Po ——输出信号功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pi ——输入信号功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
GP 的测试原理框图见图2。
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图2　功率增益GP、功率增益平坦度ΔGP、线性功率增益GPLIN、线性功率增益平坦度ΔGPLIN、
输出功率Po、功率增益可调范围GR、镜像抑制比RIMJ、谐波抑制比RHR、本振抑制比RLO、
边带抑制比RSB、杂散抑制比RFS、P_NdB 压缩点CP⁃N、幅度稳定度ΔAPo、通道间幅度一致性AMER、
邻信道功率抑制比ACPR、载波泄露CL 测试原理框图
5.2.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的本振信号，使被测器件处于正常工作状态，输入信号功率Pi；
d） 用频谱分析仪测得被测器件的输出信号功率Po；
e） 由公式（2）计算功率增益GP。
5.2.2.3　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.2.2.4　测试设备
见4.4。
5.2.2.5　规定条件
见4.3。
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5.2.3　方法二
5.2.3.1　测试原理
GP 的测试原理框图见图3。
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图3　功率增益GP、功率增益平坦度ΔGP、线性功率增益GPLIN、线性功率增益平坦度ΔGPLIN、
输出功率Po、功率增益可调范围GR、P_NdB 压缩点CP⁃N、幅度稳定度ΔAPo、通道间幅度
一致性AMER 测试原理框图
5.2.3.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图3 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号功率Pi、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用功率计测得被测器件的输出信号功率Po；
e） 由公式（2）计算功率增益GP。
5.2.3.3　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保功率计处于线性工作区。
5.2.3.4　测试设备
见4.4。
5.2.3.5　规定条件
见4.3。
5.2.4　方法三
5.2.4.1　测试原理
GP 的测试原理框图见图4 或图5。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图4　功率增益GP、功率增益平坦度ΔGP、线性功率增益GPLIN、线性功率增益平坦度ΔGPLIN、
输出功率Po、功率增益可调范围GR、P_NdB 压缩点CP⁃N、输出二阶互调截止点OIP2、
输出三阶互调截止点OIP3、噪声系数NF、群时延tGD、带内相位非线性PNL、幅度稳定度ΔAPo、
通道间幅度一致性AMER 测试原理框图（两端口网络分析仪）
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图5　功率增益GP、功率增益平坦度ΔGP、线性功率增益GPLIN、线性功率增益平坦度ΔGPLIN、
输出功率Po、功率增益可调范围GR、P_NdB 压缩点CP⁃N、输出二阶互调截止点OIP2、
输出三阶互调截止点OIP3、噪声系数NF、群时延tGD、带内相位非线性PNL、幅度稳定度ΔAPo、
通道间幅度一致性AMER 测试原理框图（四端口双源网络分析仪）
5.2.4.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对网络分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图4 或图5 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 用网络分析仪测得被测器件的功率增益GP。
5.2.4.3　注意事项
注意事项如下：
a） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
b） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
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GB/T 44924—2024
5.2.4.4　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频测试功能。
5.2.4.5　规定条件
见4.3。
5.3　功率增益平坦度ΔGP（dB）
5.3.1　目的
在规定条件下，测试被测器件最大功率增益与最小功率增益的差值。
5.3.2　测试原理
由公式（3）计算功率增益平坦度：
ΔGP = GP max - GP min …………………………（ 3 ）
式中：
ΔGP ——功率增益平坦度，单位为分贝（dB）；
GPmax——规定输入功率下和规定频率范围内测得的最大功率增益，单位为分贝（dB）；
GPmin ——规定输入功率下和规定频率范围内测得的最小功率增益，单位为分贝（dB）。
ΔGP 的测试原理框图见图2 或图3 或图4 或图5。
5.3.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 或图3 或图4 或图5 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 在规定的频率范围内改变输入信号频率，由5.2 测得规定输入功率下和规定频率范围内的最
大功率增益GPmax 和最小功率增益GPmin；
e） 由公式（3）计算功率增益平坦度ΔGP。
5.3.4　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪或功率计处于线性工作区；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.3.5　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频测试功能。
5.3.6　规定条件
见4.3。
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5.4　线性功率增益GPLIN（dB）
5.4.1　目的
在规定条件下，测试被测器件工作在输出功率变化量和输入功率变化量相同的区域，输出功率与
输入功率的比值。
5.4.2　方法一
5.4.2.1　测试原理
GPLIN 的测试原理框图见图2 或图3 或图4 或图5。
5.4.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 或图3 或图4 或图5 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 改变输入功率，使输出功率变化量与输入功率变化量相同；
e） 按5.2 的规定测得功率增益，在输出功率变化量和输入功率变化量相同的区域测得的功率增
益为线性功率增益。
5.4.2.3　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪或功率计处于线性工作区；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.4.2.4　测试设备
见4.4。
5.4.2.5　规定条件
见4.3。
5.5　线性功率增益平坦度ΔGPLIN（dB）
5.5.1　目的
在规定条件下，测试被测器件在输出功率变化量和输入功率变化量相同的区域，最大线性功率增
益与最小线性功率增益的差值。
5.5.2　测试原理
ΔGPLIN 的测试原理框图见图2 或图3 或图4 或图5。
5.5.3　测试程序
测试程序如下：
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GB/T 44924—2024
a） 将被测器件接入图2 或图3 或图4 或图5 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 在规定的频率范围内改变输入信号频率，由5.4 测得规定输入功率下和规定频率范围内的最
大线性功率增益GPmax 和最小线性功率增益GPmin；
e） 由公式（3）计算线性功率增益平坦度ΔGPLIN。
5.5.4　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪或功率计处于线性工作区；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.5.5　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频测试功能。
5.5.6　规定条件
见4.3。
5.6　输出功率P（o dBm）
5.6.1　目的
在规定条件下，测试被测器件对应规定输入功率时的输出功率。
5.6.2　测试原理
Po 测试原理框图见图2 或图3 或图4 或图5。
5.6.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 或图3 或图4 或图5 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用频谱分析仪或功率计或网络分析仪测得被测器件的输出功率Po。
5.6.4　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪或功率计处于线性工作区；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行连接，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行连接。
12
GB/T 44924—2024
5.6.5　测试设备
见4.4。
5.6.6　规定条件
见4.3。
5.7　抗烧毁功率PKSH（dBm）
5.7.1　目的
在规定条件下，测试被测器件在规定时间内输入端口所能承受的最大规定功率。
5.7.2　测试原理
PKSH 的测试原理框图见图6。
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图6　抗烧毁功率PKSH 测试原理框图
5.7.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图6 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定本振信号；
d） 对被测器件施加规定的抗烧毁功率PKSH，同时开始计时；
e） 当达到规定时间长度时，关闭信号源；
f） 按照5.1 和5.2 测得被测器件的动态功耗Pa 和功率增益GP，Pa 和GP 应在规定范围内。
5.7.4　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输入端加入适当的功率放大器，并用功率计进行功率校准，确保被测器件输入信
号功率处于规定范围内；
13
GB/T 44924—2024
b） 被测器件的输出功率需在匹配负载的可承受功率范围内，若超出范围，需增加衰减器。
5.7.5　测试设备
见4.4。
5.7.6　规定条件
见4.3。
5.8　效率η（%）
5.8.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出功率与动态功耗的比值。
5.8.2　测试原理
由公式（4）计算效率：
η = 10Po /10
Pa
× 100% …………………………（ 4 ）
式中：
η ——效率；
Po——输出信号功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pa——动态功耗，单位为毫瓦（mW）。
η 的测试原理框图见图7。
标引序号说明：
A ——电流表；
V ——电压表；
Ia ——电流；
VCC ——电压；
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图7　效率η 测试原理框图
14
GB/T 44924—2024
5.8.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图7 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 由5.6 测得被测器件的输出信号功率Po，由5.1 测得被测器件的动态功耗Pa，由公式（4）计算
效率η。
5.8.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.8.5　测试设备
见4.4。
5.8.6　规定条件
见4.3。
5.9　功率增益可调范围GR（dB）
5.9.1　目的
在规定条件下，测试被测器件功率增益的可调整范围。
5.9.2　测试原理
由公式（5）计算功率增益可调范围：
GR = Gmax - Gmin …………………………（ 5 ）
式中：
GR ——被测器件的功率增益可调范围，单位为分贝（dB）；
Gmax ——被测器件的最大功率增益，单位为分贝（dB）；
Gmin ——被测器件的最小功率增益，单位为分贝（dB）。
GR 测试原理框图见图2 或图3 或图4 或图5。
5.9.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 或图3 或图4 或图5 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，调整被测器件处于最大增益工作状态；
d） 按5.2 的规定测得器件的最大功率增益Gmax；
e） 调整被测器件处于最小增益工作状态；
f） 按5.2 的规定测得器件的最小功率增益Gmin；
g） 由公式（5）计算功率增益可调范围GR。
15
GB/T 44924—2024
5.9.4　注意事项
注意事项如下：
a） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.9.5　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频测试功能。
5.9.6　规定条件
见4.3。
5.10　镜像抑制比RIM（J dBc）
5.10.1　目的
在规定条件下，测试被测器件中频输出功率和对应镜频信号的中频输出功率的差值。
5.10.2　测试原理
由公式（6）计算镜像抑制比：
RIMJ = Pif - Pm …………………………（ 6 ）
式中：
RIMJ ——被测器件的镜像抑制比，单位为分贝相对载波（dBc）；
Pif ——射频信号fir 产生的中频信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pm ——与射频信号fir 对应的镜频信号产生的中频信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
RIMJ 的测试定义见图8。
标引序号说明：
Pif ——射频信号fir 产生的中频信号输出功率；
Pm ——与射频信号fir 对应的镜频信号产生的中频信号输出功率；
fif ——中频信号频率；
fir ——射频信号频率；
Pir ——射频信号功率；
flo ——本振信号频率；
fim ——与射频信号fir 对应的镜频信号频率；
Pim ——与射频信号fir 对应的镜频信号功率。
图8　镜像抑制比RIMJ 测试定义
16
GB/T 44924—2024
RIMJ 的测试原理框图见图2。
5.10.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定本振信号；
d） 将信号源连接到被测器件射频信号输入端，按照规定将信号源频率设置为fir，功率设置为Pir，
用频谱分析仪测得射频信号产生的中频信号输出功率Pif；
e） 将信号源的频率设置为与射频信号频率fir 对应的镜频信号频率fim（两者与本振信号频率flo 的
差值等于中频信号频率fif，同时满足fir+fim=2flo），给被测器件施加与Pir 功率相等的信号功
率，即Pim=Pir，用频谱分析仪测得与射频信号fir 对应的镜频信号产生的中频信号输出功
率Pm；
f） 由公式（6）计算镜像抑制比RIMJ。
5.10.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.10.5　测试设备
见4.4。
5.10.6　规定条件
见4.3。
5.11　谐波抑制比RHR（dBc）
5.11.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出端口基波信号输出功率与其谐波信号输出功率的差值。
5.11.2　测试原理
由公式（7）计算谐波抑制比：
R( n )
HR = P ( 1 )
o - P ( n )
o ………………………………（ 7 ）
式中：
RHR
（n）——被测器件第n 次谐波抑制比，单位为分贝相对载波（dBc）；
Po
（1） ——基波信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Po
（n） ——n 次谐波信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
RHR 的测试定义见图9。
17
GB/T 44924—2024
标引序号说明：
Po
（1）——基波信号输出功率；
Po
（2）——二次谐波输出功率；
Po
（3）——三次谐波输出功率；
Po
（n）——n 次谐波输出功率；
fo
（1） ——基波信号频率；
2fo
（1）——二次谐波信号频率；
3fo
（1）——三次谐波信号频率；
nfo
（1）——n 次谐波信号频率。
图9　谐波抑制比RHR 测试定义
RHR 的测试原理框图见图2。
5.11.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用频谱仪分别测得输出端频率fo
（1）、2fo
（1）、3fo
（1）…nfo
（1）处的功率Po
（1）、Po
（2）、Po
（3）…Po
（n）；
e） 由公式（7）计算谐波抑制比RHR
（n）。
5.11.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.11.5　测试设备
见4.4。
5.11.6　规定条件
见4.3。
5.12　本振抑制比RLO（dBc）
5.12.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出端口基波信号输出功率与本振信号泄露功率的差值。
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GB/T 44924—2024
5.12.2　测试原理
由公式（8）计算本振抑制比：
RLO = P ( 1 )
o - PLO⁃O …………………………（ 8 ）
式中：
RLO ——被测器件本振波抑制比，单位为分贝相对载波（dBc）；
Po
（1） ——输出端口测得的基波信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
PLO⁃O——输出端口测得的本振信号泄露功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
RLO 的测试原理框图见图2。
5.12.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用频谱仪在输出端口测得的基波信号输出功率Po
（1），以及在输出端口测得的本振信号泄露功
率PLO⁃O；
e） 由公式（8）计算本振抑制比RLO。
5.12.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.12.5　测试设备
见4.4。
5.12.6　规定条件
见4.3。
5.13　边带抑制比RSB（dBc）
5.13.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出端口基波信号输出功率与边带信号输出功率的差值。
5.13.2　测试原理
由公式（9）计算边带抑制比：
RSB = P ( 1 )
o - PSB …………………………（ 9 ）
式中：
RSB ——被测器件边带抑制比，单位为分贝相对载波（dBc）；
Po
（1） ——基波信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
PSB ——边带信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
RSB 的测试定义见图10。
19
GB/T 44924—2024
标引序号说明：
Po
（1）——基波信号输出功率；
PLO ——本振信号输出功率；
PSB ——边带信号输出功率；
fo
（1） ——基波信号频率；
fLO ——本振信号频率；
fSB ——边带信号频率；
fin ——输入信号频率。
图10　边带抑制比RSB 测试定义
RSB 的测试原理框图见图2。
5.13.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用频谱仪分别测得输出端基波信号频率fo
（1）的功率P ( 1 )
o ，边带信号fSB 的功率PSB；
e） 由公式（9）计算边带抑制比RSB。
5.13.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.13.5　测试设备
见4.4。
5.13.6　规定条件
见4.3。
5.14　杂散抑制比RFS（dB）
5.14.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出端口基波信号输出功率与规定频率范围内最大杂散信号功率的
差值。
20
GB/T 44924—2024
5.14.2　测试原理
由公式（10）计算杂散抑制比：
RFS = P ( 1 )
o - Pspur …………………………（ 10 ）
式中：
RFS ——杂散抑制比，单位为分贝相对载波（dBc）；
P ( 1 )
o ——基波信号输出功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pspur ——杂散信号功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
RFS 的测试原理框图见图2。
5.14.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 用频谱仪分别测得输出端基波信号频率fo
（1）的功率P ( 1 )
o ，及规定频率范围内最大杂散信号的
功率Pspur；
e） 由公式（10）计算杂散抑制比RFS。
5.14.4　注意事项
在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区。
5.14.5　测试设备
见4.4。
5.14.6　规定条件
见4.3。
5.15　P_NdB 压缩点CP⁃N（dBm）
5.15.1　目的
在规定条件下，测试被测器件随输入功率增加，器件功率增益较线性功率增益下降NdB 时的输
入/输出功率。
5.15.2　方法一
5.15.2.1　测试原理
CP⁃N 的测试定义见图11。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
ICP⁃N ——较线性功率增益下降NdB 的输入端功率，即输入P_NdB 压缩点；
OCP⁃N ——较线性功率增益下降NdB 的输出端功率，即输出P_NdB 压缩点。
图11　P_NdB 压缩点CP⁃N 测试定义
CP⁃N 的测试原理框图见图2 或图3。
5.15.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图2 或图3 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按5.4 的规定测得线性功率增益；
e） 增大被测器件的输入功率，按5.2 的规定测得被测器件的功率增益，计算功率增益与线性功
率增益的差值，当功率增益相比于线性功率增益下降NdB 时，此时的输入/输出功率即为输
入P_NdB 压缩点/输出P_NdB 压缩点。
5.15.2.3　注意事项
注意事项如下：
a） 在测试过程中，确保输入功率不超过器件抗烧毁功率；
b） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪或功率计处于线性工作区。
5.15.2.4　测试设备
见4.4。
5.15.2.5　规定条件
见4.3。
5.15.3　方法二
5.15.3.1　测试原理
CP⁃N 的测试定义见图11。
CP⁃N 的测试原理框图见图4 或图5。
22
GB/T 44924—2024
5.15.3.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对网络分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图4 或图5 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 改变输入功率，用网络分析仪显示功率增益随输入/输出功率变化的曲线，测得与线性功率增
益相比小N dB 处的输入/输出功率，即输入P_NdB 压缩点/输出P_NdB 压缩点。
5.15.3.3　注意事项
注意事项如下：
a） 在测试过程中，确保输入功率不超过器件抗烧毁功率；
b） 两端口网络分析仪，按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号同步；
c） 四端口双源网络分析仪，按照图5 原理进行测试。
5.15.3.4　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频增益压缩测试功能。
5.15.3.5　规定条件
见4.3。
5.16　输出二阶互调截止点OIP2（dBm）
5.16.1　目的
在规定条件下，测试被测器件基波信号输出功率与其二阶互调输出功率相等时的功率。
5.16.2　方法一
5.16.2.1　测试原理
由公式（11）、公式（12）、公式（13）、计算输出二阶互调截止点：
IM2_L= P2L - Pfo1 …………………………（ 11 ）
IM2_H= P2H - Pfo2 …………………………（ 12 ）
OIP2 = min ( Pfo1 -IM2_L，Pfo2 -IM2_H）…………………………（ 13 ）
式中：
IM2_L、IM2_H——二阶互调失真，单位为分贝（dB）；
OIP2 ——被测器件的输出二阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pfo1 ——输出信号频率fo1 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pfo2 ——输出信号频率fo2 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
P2L ——输出二阶互调信号频率fo2 -fo1 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
P2H ——输出二阶互调信号频率fo2+fo1 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
输出二阶互调截止点的测试定义见图12。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
Pfo1 ——输出信号频率fo1 处功率；
Pfo2 ——输出信号频率fo2 处功率；
P2L ——输出二阶互调信号频率fo2 -fo1 处功率；
P2H ——输出二阶互调信号频率fo2+fo1 处功率；
fo1 ——输出信号频率1；
fo2 ——输出信号频率2；
fo2 -fo1——输出二阶互调信号频率1；
fo2+fo1 ——输出二阶互调信号频率2。
图12　输出二阶互调截止点OIP2 测试定义
输出二阶互调截止点OIP2 的测试原理见图13。
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图13　输出二阶互调截止点OIP2、输出三阶互调截止点OIP3 测试原理框图
5.16.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图13 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按规定设置信号源1 和信号源2，通过合路器后输入至被测器件输入端；
e） 用频谱分析仪分别测得被测器件输出端频率为fo2-fo1、fo1、fo2、fo2+fo1 处信号的功率，依次记为
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GB/T 44924—2024
P2L、Pfo1、Pfo2、P2H。
f） 由公式（11）、公式（12）、公式（13）、计算输出二阶互调点OIP2。
5.16.2.3　注意事项
注意事项如下：
a） 保证输出端fo1 和fo2 的信号功率Pfo1 和Pfo2 相等；
b） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区；
c） 根据被测器件的线性指标，考虑增加滤波器以降低信号源谐波分量引入的误差。
5.16.2.4　测试设备
见4.4。
5.16.2.5　规定条件
见4.3。
5.16.3　方法二
5.16.3.1　测试原理
OIP2 的测试定义见图12。
OIP2 的测试原理框图见图4 或图5。
5.16.3.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对网络分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图4 或图5 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 用网络分析仪测得被测器件的输出二阶互调截止点OIP2。
5.16.3.3　注意事项
注意事项如下：
a） 保证输出端fo1 和fo2 的信号功率Pfo1 和Pfo2 相等；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，并确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.16.3.4　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频增益互调测试功能。
5.16.3.5　规定条件
见4.3。
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GB/T 44924—2024
5.17　输入二阶互调截止点IIP2（dBm）
5.17.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出二阶互调截止点与线性功率增益的差值。
5.17.2　测试原理
由公式（14）计算输入二阶互调截止点：
IIP2 = OIP2 - GPLIN …………………………（ 14 ）
式中：
IIP2 ——被测器件的输入二阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
OIP2 ——被测器件的输出二阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
GPLIN ——线性功率增益，单位为分贝（dB）。
5.17.3　测试程序
测试程序如下：
a） 按5.4 测得被测器件的线性功率增益GPLIN；
b） 按5.16 测得被测器件的输出二阶互调截止点OIP2；
c） 根据公式（14）计算被测器件的输入二阶互调点IIP2。
5.17.4　注意事项
参照5.4.2.3、5.16.2.3 或5.16.3.3。
5.17.5　测试设备
除满足4.4 外，参照5.16.2.4 或5.16.3.4。
5.17.6　规定条件
见4.3。
5.18　输出三阶互调截止点OIP3（dBm）
5.18.1　目的
在规定条件下，测试被测器件基波信号输出功率与其三阶互调输出功率相等时的功率。
5.18.2　方法一
5.18.2.1　测试原理
由公式（15）、公式（16）、公式（17）计算输出三阶互调截止点：
IM3_L= P3L - Pfo1 …………………………（ 15 ）
IM3_L= P3H - Pfo2 …………………………（ 16 ）
OIP3 = min ( Pfo1 -IM3_L/2，Pfo2 -IM3_H/2）…………………………（ 17 ）
式中：
IM3_L、IM3_H ——三阶互调失真，单位为分贝（dB）；
OIP3 ——被测器件的输出三阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
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GB/T 44924—2024
Pfo1 ——输出信号频率fo1 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
Pfo2 ——输出信号频率fo2 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
P3L ——输出三阶互调信号频率2fo1-fo2 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）；
P3H ——输出三阶互调信号频率2fo2-fo1 处功率，单位为分贝毫瓦（dBm）。
输出三阶互调截止点测试定义见图14。
标引序号说明：
Pfo1 ——输出信号频率fo1 处功率；
Pfo2 ——输出信号频率fo2 处功率；
P3L ——输出三阶互调信号频率2fo1-fo2 处功率；
P3H ——输出三阶互调信号频率2fo2-fo1 处功率；
fo1 ——输出信号频率；
fo2 ——输出信号频率；
2fo1-fo2 ——输出三阶互调信号频率；
2fo2-fo1 ——输出三阶互调信号频率。
图14　输出三阶互调截止点测试定义
输出三阶互调截止点OIP3 的测试原理见图13。
5.18.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图13 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 加上规定的本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按规定设置信号源1 和信号源2，通过合路器后输入至被测器件输入端；
e） 用频谱分析仪分别测得被测器件输出端频率为2fo1-fo2、fo1、fo2、2fo2-fo1 处信号的功率，依次记
为P3L、Pfo1、Pfo2、P3H；
f） 由公式（15）、公式（16）、公式（17）、计算输出三阶互调点OIP3。
5.18.2.3　注意事项
注意事项如下：
a） 保证输出端fo1 和fo2 的信号功率Pfo1 和Pfo2 相等；
b） 在被测器件输出端加入适当的衰减，确保频谱分析仪处于线性工作区；
c） 根据被测器件的线性指标，考虑增加滤波器以降低信号源谐波分量引入的误差。
5.18.2.4　测试设备
见4.4。
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GB/T 44924—2024
5.18.2.5　规定条件
见4.3。
5.18.3　方法二
5.18.3.1　测试原理
OIP3 的测试定义见图14。
OIP3 的测试原理框图见图4 或图5。
5.18.3.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对网络分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图4 或图5 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 用网络分析仪测得被测器件的输出三阶互调点OIP3。
5.18.3.3　注意事项
注意事项如下：
a） 保证输出端fo1 和fo2 的信号功率Pfo1 和Pfo2 相等；
b） 两端口网络分析仪，则按照图4 原理进行测试，确保网络分析仪与本振信号源的参考信号
同源；
c） 四端口双源网络分析仪，则按照图5 原理进行测试。
5.18.3.4　测试设备
除满足4.4 外，网络分析仪还应具备变频增益互调测试功能。
5.18.3.5　规定条件
见4.3。
5.19　输入三阶互调截止点IIP3（dBm）
5.19.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输出三阶互调截止点与线性功率增益的差值。
5.19.2　测试原理
由公式（18）计算输入三阶互调截止点：
IIP3 = OIP3 - GPLIN …………………………（ 18 ）
式中：
IIP3 ——被测器件的输入三阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
OIP3——被测器件的输出三阶互调截止点，单位为分贝毫瓦（dBm）；
GPLIN ——线性功率增益，单位为分贝（dB）。
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GB/T 44924—2024
5.19.3　测试程序
测试程序如下：
a） 按5.4 测得被测器件的线性功率增益GPLIN；
b） 按5.18 测得被测器件的输出三阶互调截止点OIP3；
c） 根据公式（18）计算被测器件的输入三阶互调点IIP3。
5.19.4　注意事项
参照5.4.2.3、5.18.2.3 或5.18.3.3。
5.19.5　测试设备
除满足4.4 外，参照5.18.2.4 或5.18.3.4。
5.19.6　规定条件
见4.3。
5.20　通道建立时间tON（ns）
5.20.1　目的
在规定条件下，测试被测器件在控制信号作用下，通道开启到正常工作状态所需要的时间。
5.20.2　测试原理框图
通道建立时间tON 的定义见图15。
标引序号说明：
VH⁃EN ——使能/关断信号的高电平电压；
VD ——被测器件稳定工作后，检波器稳定输出电压；
tON ——ON/OFF 信号有效（穿过50% VH⁃EN）至通道输出幅度达到90% VD 的时间，即通道建立时间；
tOFF ——ON/OFF 信号无效（穿过50% VH⁃EN）至通道输出幅度达到10% VD 的时间，即通道关断时间。
图15　通道建立时间tON、通道关断时间tOFF 测试定义
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GB/T 44924—2024
通道建立时间tON 的测试原理见图16。
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口；
ON/OFF ——被测器件开启/关断控制。
图16　通道建立时间tON、通道关断时间tOFF 测试原理框图
5.20.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图16 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按规定对控制信号发生器进行设置，为被测器件提供使能信号，同时用示波器监测该控制
信号；
e） 观察示波器，取控制信号上升沿/下降沿50% 幅值点至输出信号变化到90% 幅值点之间的
时间间隔，即为通道建立时间tON。
5.20.4　注意事项
注意事项如下：
a） 测得的通道建立时间包括路径线缆时延、检波器响应时间，若对结果进行修正，需对该部分的
时延事先测定；
b） 若无特殊说明，示波器的输入阻抗一般设置为高阻态。
5.20.5　测试设备
见4.4。
5.20.6　规定条件
见4.3。
5.21　通道关断时间tOFF（ns）
5.21.1　目的
在规定条件下，测试被测器件在控制信号作用下，通道关断所需要的时间。
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GB/T 44924—2024
5.21.2　测试原理框图
通道关断时间tOFF 的测试定义见图15。
通道关断时间tOFF 的测试原理见图16。
5.21.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图16 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按规定对控制信号发生器进行设置，为被测器件提供使能信号；
e） 观察示波器，取控制信号上升沿/下降沿50% 幅值点至输出信号变化到10% 幅值点之间的
时间间隔，即为tOFF。
5.21.4　注意事项
注意事项如下：
a） 测得的通道关断时间包括路径线缆时延、检波器响应时间，若对结果进行修正，需对该部分的
时延事先测定；
b） 若无特殊说明，示波器的输入阻抗一般设置为高阻态。
5.21.5　测试设备
见4.4。
5.21.6　规定条件
见4.3。
5.22　收发切换时间tTR
5.22.1　目的
在规定条件下，测试被测器件在控制信号作用下，从接收工作状态到发射工作状态或从发射工作
状态到接收工作状态所需要的时间。
5.22.2　测试原理框图
收发切换时间tTR 的定义见图17。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
VH⁃TR ——收发切换控制信号的高电平电压；
VD1、VD2 ——被测器件稳定工作后，检波器稳定输出电压；
tRXOFF ——T/R 信号无效（穿过50% VH⁃TR）至接收通道输出幅度达到10% VD1 的时间，即接收通道关断时间；
tTXOFF ——T/R 信号无效（穿过50% VH⁃TR）至发射通道输出幅度达到10% VD1 的时间，即发射通道关断时间；
tRXON ——T/R 信号有效（穿过50% VH⁃TR）至接收通道输出幅度达到90% VD2 的时间，即接收通道开启时间；
tTXON ——T/R 信号有效（穿过50% VH⁃TR）至发射通道输出幅度达到90% VD2 的时间，即发射通道开启时间。
图17　收发切换时间tTR 测试定义
收发切换时间tTR 的测试原理见图18。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
RXIN/TXIN ——接收输入/发射输入；
RXOUT/TXOUT——接收输出/发射输出；
T/R ——收发工作模式切换控制；
LO ——本振输入端口。
图18　收发切换时间tTR 测试原理框图
5.22.3　测试程序
测试程序如下：
a） 将被测器件接入图18 所示的测试系统；
b） 接通电源；
c） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
d） 按规定对控制信号发生器进行设置，为被测器件提供收发切换使能信号；
e） 观察示波器，取控制信号上升沿/下降沿50% 幅值点至输出信号变化到10% 幅值点之间的
时间间隔，即为tRXOFF 或tTXOFF；
f） 观察示波器，取控制信号上升沿/下降沿50% 幅值点至输出信号变化到90% 幅值点之间的
时间间隔，即为tTXON 或tRXON；
g） 当测试的为接收到发射的切换时间时，收发切换时间tTR 取tRXOFF 和tTXON 两者中的最大值，当
测试的为发射到接收的切换时间时，收发切换时间tTR 取tTXOFF 和tRXON 两者中的最大值。
5.22.4　注意事项
注意事项如下：
a） 测得的通道建立时间包括路径线缆时延、检波器响应时间，若对结果进行修正，需对该部分的
时延事先测定；
b） 若无特殊说明，示波器的输入阻抗一般设置为高阻态。
5.22.5　测试设备
见4.4。
5.22.6　规定条件
见4.3。
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GB/T 44924—2024
5.23　噪声系数NF（dB）
5.23.1　目的
在规定条件下，测试被测器件输入信噪比与输出信噪比的比值。
5.23.2　方法一
5.23.2.1　测试原理
当被测器件输入端分别输入两个资用的噪声功率（热态和冷态）时，被测器件的输出端可以得到
两个相应的资用噪声功率，则这两个资用噪声功率之比，就称为Y 系数。
噪声源的超噪比已知，可以由公式（19）计算被测器件的噪声系数：
NF = ENR - 10 lg（Y - 1） …………………………（ 19 ）
式中：
NF ——被测器件的噪声系数，单位为分贝（dB）；
ENR ——噪声源的超噪比，单位为分贝（dB）；
Y ——测得的Y 系数。
噪声系数Y 系数法测试定义见图19。
标引序号说明：
Pi（Cold）——在冷负载温度条件下被测器件输入端的噪声功率，即输入冷态噪声功率；
Pi（Hot） ——在热负载温度条件下被测器件输入端的噪声功率，即输入热态噪声功率；
Po（Cold）——在冷负载温度条件下被测器件输出端的噪声功率，即输出热态噪声功率；
Po（Hot） ——在热负载温度条件下被测器件输出端的噪声功率，即输出热态噪声功率；
ΔPi ——输入冷态和输入热态噪声功率变化量；
ΔPo ——输出冷态和输出热态噪声功率变化量；
GP ——功率增益。
图19　噪声系数Y 系数法测试定义
噪声系数Y 系数法测试原理见图20。
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GB/T 44924—2024
标引序号说明：
IN ——信号输入端口；
OUT ——信号输出端口；
LO ——本振输入端口。
图20　噪声系数Y 系数法测试原理框图
5.23.2.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对噪声分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图20 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 用噪声分析仪测得被测器件的噪声系数NF。
5.23.2.3　注意事项
注意事项如下：
a） 当规定要求测试被测器件的单边带噪声系数时，需在噪声源和被测器件输入端口之间接入滤
波器，此时测得的噪声系数为单边带噪声系数NFSSB；
b） 当规定要求测试被测器件的双边带噪声系数时，直接将噪声源接入被测器件，此时测得的噪
声系数为双边带噪声系数NFDSB；
c） 当被测器件带镜像抑制功能或者带有边带滤波功能时，测得的噪声系数均为单边带噪声系
数。若带入滤波器进行测试，应对该部分的噪声系数事先测定，需对测量结果进行修正；
d） 在被测器件输出端加入滤波器可滤除杂波信号，保证测试结果准确；
e） 在被测器件输出端加入适当的衰减，应使噪声接收机处于线性工作区；
f） 在选择噪声源时，应注意噪声源的ENR 应大于被测器件的噪声系数，并尽量选择ENR 较小
的噪声源。
5.23.2.4　测试设备
见4.4。
5.23.2.5　规定条件
见4.3。
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GB/T 44924—2024
5.23.3　方法二
5.23.3.1　测试原理
当被测器件的输入端始终保持在冷负载温度，测量得到的噪声是被放大的输入噪声加上被测器件
贡献的噪声。当已知被测器件的增益，便可从测量结果中把被放大的输入噪声去掉，只留下被测器件
产生的噪声，由此可计算出噪声系数NF。
NF 冷态噪声源法测试定义见图21。
标引序号说明：
Pi（Cold）——在冷负载温度条件下被测器件输入端的噪声功率，即输入冷态噪声功率；
Po（Cold）——在冷负载温度条件下被测器件输出端的噪声功率，即输出冷态噪声功率；
GP ——功率增益。
图21　噪声系数NF 冷态噪声源法测试定义
NF 冷态噪声源法测试原理框图见图4 或图5。
5.23.3.2　测试程序
测试程序如下：
a） 按规定要求对网络分析仪进行设置和校准；
b） 将被测器件接入图4 或图5 所示的测试系统；
c） 接通电源；
d） 对被测器件施加规定的输入信号、本振信号，使被测器件处于正常工作状态；
e） 用网络分析仪测得被测器件