【超清版】 GB/T 44845-2024 承压设备低频电磁检测方法

ICS 77.040.20
CCS H 26
中华人民共和国国家标准
GB/T 44845—2024
承压设备低频电磁检测方法
Low frequency electromagnetic testing method for pressure equipments
2024-10-26 发布2024-10-26 实施
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会发 布

目　　次
前言 ····································································································· Ⅲ
1 范围 ·································································································· 1
2 规范性引用文件 ······················································································ 1
3 术语和定义 ··························································································· 1
4 方法概要 ······························································································ 1
5 人员资格 ······························································································ 2
6 低频电磁检测仪器 ···················································································· 2
7 低频电磁检测程序 ···················································································· 7
8 检测结果评价与处理 ················································································· 9
9 检测记录和报告 ····················································································· 10
附录 A （资料性）　检测区域划分与编号的示例 ······················································ 11
附录 B （资料性）　检测记录及报告 ·································································· 13

前　　言
本文件按照GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第1 部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国锅炉压力容器标准化技术委员会（SAC/TC 262）提出并归口。
本文件起草单位：中国特种设备检测研究院、北京工业大学、重庆市特种设备检测研究院、南京市
锅炉压力容器检验研究院、成都市特种设备检验检测研究院、云南省特种设备安全检测研究院、贵州省
特种设备检验检测院、广东省特种设备检测研究院茂名检测院、苏州热工研究院有限公司、江西省检验
检测认证总院特种设备检验检测研究院。
本文件主要起草人：李光海、陆新元、焦敬品、邵珊珊、陈杰、章彬斌、彭刚、袁坤、罗雄、史芳杰、
沈书乾、于永亮、赵景勇、赵鹏、聂印、张伟、汤新文、郭璟倩、张琦。

1　范围
本文件规定了进行承压设备低频电磁检测的检测仪器要求、检测程序和结果评价方法等。
本文件适用于壁厚为2 mm～20 mm 的导电性金属材料制承压设备表面和埋藏缺陷的低频电磁检
测，检测时包括涂层厚度在内的最大提离高度不大于3 mm。
2　规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文
件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用
于本文件。
GB/T 5616　无损检测　应用导则
GB/T 12604.6　无损检测　术语　涡流检测
NB/T 47013（所有部分）　承压设备无损检测
3　术语和定义
NB/T 47013.1、GB/T 12604.6 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
低频电磁激励频率　low frequency electromagnetic excitation frequency
低频电磁场激励电流的标称频率。
3.2
低频电磁场　low frequency electromagnetic field
采用激励频率一般不高于300 Hz 的低频交流电流进行激励，在被检测对象表面和内部产生的涡流
场、漏磁场的耦合场。
3.3
缺陷当量　defect equivalent
依据获得的信号特征给出缺陷量值。
3.4
正交扫查　orthogonal scan
扫查方向互相垂直的扫查。
4　方法概要
4.1　低频电磁检测方法的基本原理见图1。通有低频交流电流的线圈在被检测对象表面和内部激发出低
频电磁场，在缺陷处低频电磁场会发生畸变，通过检测元件拾取低频电磁场的信号变化，并对信号进行
分析处理，实现对被检测对象表面、近表面及埋藏的缺陷检测。
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标引序号说明：
1─磁芯；
2─检测元件；
3─激励线圈；
4─被检测对象。
图1　低频电磁检测原理图
4.2　对于铁磁性材料，低频电磁激励频率一般不大于30 Hz。对于非铁磁性材料，低频电磁激励频率一
般不大于300 Hz。
4.3　磁芯主要用于约束漏磁场的向外扩散，提高聚磁能力。
4.4　根据不同被检测对象，检测元件可选取线圈、霍尔元件等。
5　人员资格
从事低频电磁检测的人员应满足相关行业有关规定，掌握一定材料学和电磁学基础知识，了解承压
设备无损检测相关规定，并具有一定现场检测经验，方可从事检测工作。
6　低频电磁检测仪器
6.1　仪器构成
低频电磁检测仪器主要包括检测仪器主机、检测传感器、电源、信号线及辅助器材等，辅助器材主
要包括传感器角度调节配件和提离高度调节配件等。
6.2　仪器功能和要求
检测仪器主机应具有信号激励、数据采集、波形显示、数据分析与存储的功能，至少满足以下
条件：
a） 信号的激励频率、增益范围可调，且满足检测要求；
b） 具有信号实时显示和记录功能，能记录检测信号幅值和相位等信息，显示范围可调。
6.3　检测传感器
6.3.1　明确检测传感器适用的被检测对象材质、厚度、曲率范围等参数。
6.3.2　检测传感器至少满足以下要求：
检测传感器各通道的一致性， 每个通道的响应幅度值与所有通道的平均幅度值之差不大
于±3 dB；
a）
b） 通过主机对检测传感器响应通道数进行选择。
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6.4　校准试件
6.4.1　用途与要求
校准试件主要用于对低频电磁检测仪器主机和传感器检测性能的可靠性及仪器误差进行检查，以获
得准确的检测结果。至少制作平板校准试件和管状校准试件各1 个。校准试件材料一般选用低碳钢
材料。
6.4.2　平板校准试件
平板校准试件宽度不小于检测传感器阵列总扫查宽度的2 倍，试件长度不小于700 mm，厚度为
8 mm，试件表面加工边长为10 mm 的正方形缺陷，缺陷应位于试件长轴中心线，深度为试件厚度的
20%、40%、60%、80%。
6.4.3　管状校准试件
管状校准试件公称直径为150 mm，厚度为8 mm，试件长度不小于700 mm，试件内表面加工4 个
Φ10 mm 的平底孔，平底孔的深度分别为管壁厚度20%、40%、60%、80%。
6.4.4　加工要求
缺陷加工要求边长和直径的公差不大于±0.5 mm，深度的公差在±0.1 mm 内，缺陷之间的距离不小
于150 mm，缺陷与试件端部的距离不小于100 mm。平板和管状校准试件示意图见图2。
单位为毫米
图2　校准试件示意图
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3
单位为毫米
图2　校准试件示意图（续）
6.5　对比试件
6.5.1　用途与要求
对比试件用于被检测缺陷尺寸当量的评定，但不应解释为检测设备可以探测到的缺陷最小尺寸。对
比试件应与被检测对象具有相同或相近的材质、热处理状态、表面状态及电磁性能，对比试件的厚度应
与被检对象的厚度相近，对比试件与被检对象的外径偏差不大于20%，公称厚度偏差不大于10%。
6.5.2　平板对比试件
平板对比试件宽度不小于检测传感器阵列总扫查宽度的2 倍，试件长度不小于700 mm，应在对比试
件长轴中心线上分别加工出深度为板厚的20%、40%、60%、80% 的4 个球形孔，或者加工出深度为
试件厚度的10%、30%、50%、70%、90% 的5 个球形孔。
6.5.3　管状对比试件
管状对比试件宽度不小于检测传感器阵列总扫查宽度的2 倍，试件长度不小于700 mm，应在对比试
件外壁或内壁的长轴中心线上分别加工出深度为管壁厚度20%、40%、60%、80% 的4 个球形孔，或
者加工出深度为管壁厚度10%、30%、50%、70%、90% 的5 个球形孔。
6.5.4　加工要求
对比试件上加工的人工缺陷应采用适当的方法进行测定，并满足相关标准或技术条件的要求。对于
球形孔的加工，8 mm 以下的厚度选择直径为20 mm 的球头铣刀，8 mm 以上的厚度选择直径为25 mm 的
球头铣刀，加工深度公差在±0.1 mm 内，孔与孔的间距不小于150 mm，两端孔距试件边缘的距离均不
小于100 mm。平板和管状对比试件示意图分别见图3 和图4。
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单位为毫米
图3　平板对比试件示意图
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单位为毫米
图4　管状对比试件示意图
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6.6　仪器校准
6.6.1　低频电磁检测仪器每年至少进行一次校准，校准前，使用单位应制定校准作业指导书。
6.6.2　仪器校准应在校准试件上进行，校准中应使检测传感器贴近校准试件的表面，提离距离不大于
3 mm，以获得稳定的低频电磁检测信号。
6.6.3　校准结果应符合仪器使用说明书的要求且灵敏度能识别校准试件中的最小缺陷。
6.6.4　校准结果应有相应记录和报告。
6.7　仪器功能核查
在仪器遇到故障或者修理后，应进行功能核查并重新校准。
6.8　仪器维护
低频电磁检测仪器应进行周期性维护和检查，维持检测仪器功能正常，检查人员应对每次维护检查
的结果进行记录。
7　低频电磁检测程序
7.1　资料审查
资料审查应包括以下内容：
被检测对象原始资料：设计资料、竣工资料等，重点了解被检测对象的类别、结构特征和材质
特性；
a）
被检测对象运行记录资料：使用环境、运行参数、载荷变化情况以及工作中出现的异常情况等
信息；
b）
c） 被检测对象检验资料：历次检验记录和检测报告；
d） 被检测对象其他资料：安装、维护保养、修理、改造的文件资料等。
7.2　检测条件
检测条件满足以下要求：
a） 被检测对象检测面温度应在检测传感器的适用温度范围内；
被检测对象表面不应有影响低频电磁检测实施的铁磁性粉屑及其他污物，必要时进行表面
清理；
b）
应评估被检测对象表面的涂层厚度对检测灵敏度的影响，必要时应使用对比试件进行模拟工况
试验确认，若评估后或通过模拟试验确认涂层厚度对检测灵敏度影响程度超过可接受范围，则
应将涂层去除；
c）
管状工件的检测应评估检测传感器与被检测对象表面的间隙，间隙不大于检测传感器允许的最
大提离值，必要时可使用对比试件进行模拟工况试验确认；
d）
e） 对带隔热层的被检测对象进行检测前，应拆除影响检测的隔热层。
7.3　检测工艺文件
7.3.1　检测工艺文件包括工艺规程和作业指导书。
7.3.2　工艺规程除满足GB/T 5616 的要求外，还应规定以下相关因素的具体范围和要求：
a） 被检测对象的几何形状、规格尺寸、材质；
b） 被检测对象表面状态要求；
c） 检测仪器及型号；
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d） 检测仪器的激励频率；
e） 检测软件；
f） 扫查方向；
g） 扫查速度和扫查覆盖区域；
h） 重叠区域；
i） 提离高度；
j） 涂层或涂层厚度；
k） 校准（对比）试件和校准方法；
l） 缺陷定量方法及验收准则；
m） 人员资格要求及检测报告。
如相关因素的变化超出规定时，应重新编制或修订工艺规程。
7.3.3　应根据工艺规程的内容以及被检测对象的检测要求编制作业指导书，其内容除满足GB/T 5616 的
要求外，至少还应包括以下要求：
a） 被检测对象：规格尺寸、材质、设计与运行参数、涂层类型和厚度、被检测对象表面状态；
检测设备器材：包括检测仪器主机、检测传感器、检测数据采集与分析软件、对比试件规格尺
寸及人工缺陷；
b）
c） 检测工艺参数：包括检测传感器型号和参数、低频电磁激励频率、检测传感器扫查方式；
d） 检测操作程序和扫查次序；
e） 检测记录、检测示意图和数据评定的具体要求。
7.3.4　作业指导书在首次使用时应进行工艺验证，验证方式可在相关对比试件上进行，验证检测传感器
各通道的一致性和检测灵敏度等。
7.4　检查和复验
在下列情况下，应使用对比试件对低频电磁检测仪器的灵敏度进行检查和复验，并对灵敏度变化情
况进行记录：
a） 项目检测开始前和结束后；
b） 连续检测时，每工作8 h检查和复验1次；
c） 怀疑检测设备运行不正常时；
d） 被检测对象规格发生变化时；
e） 合同各方有争议或认为有必要时。
7.5　检测环境
7.5.1　检测前应识别检测现场环境风险，检测过程中注重事故预防，确认电气安全。
7.5.2　检测环境应符合仪器设备和检测工作的要求。
7.5.3　检测现场附近不应有影响仪器设备正常工作的电磁干扰源。
7.6　安全要求
7.6.1　本文件没有完全列出进行检测时所有的安全要求，使用本文件的用户有义务在检测前建立适当的
安全和健康准则。
7.6.2　检测的基本安全要求如下：
a） 检测人员应遵守现场的安全要求，根据要求穿戴防护工作服和佩戴有关防护设备；
b） 检测实施前，应有相应的安全应急措施；
c） 检测时，应排除周边电磁场对检测设备的影响。
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7.7　检测实施
7.7.1　检测区域编号
确定各检测区域的轴向和周向位置、范围，并详细记录。被检测对象的主要结构特征（人孔、
法兰、焊缝、三通、弯头、支撑等）位置应有记录，并制作出测绘图。
按照适当的扫查模式对被检测对象的检测区域进行划分和编号，测量结果与检测区域应一一对应，
检测区域划分与编号的示例见附录A。
7.7.2　仪器设置
检测前，检测仪器应按要求可靠连接，并保证良好接地。接通电源后，应按检测工艺要求设置相关
参数。
7.7.3　仪器调试
检测仪器在每次使用前都应进行现场调试，确认检测灵敏度和结果的符合性，每次调试结果均应记
录。检测前仪器调试应在对比试件上进行。
7.7.4　检测阈值
检测前应确定报警的缺陷当量，在探测到超过此缺陷当量的信号时，检测仪器应自动记录和显示。
7.7.5　检测扫查要求
开展低频电磁检测时的扫查要求如下。
如果以发现体积型缺陷为检测目的，采用单一的扫查方式，如果以发现面积型缺陷为检测目
的，采用正交扫查方式。
a）
b） 检测传感器的扫查速度应保持均匀，最大扫查速度不大于仪器使用说明的要求。
为避免漏检，相邻扫查区域的面积应有重叠。面积重叠率一般不小于25%，如仪器说明书有更
高重叠率要求时，应按仪器说明书要求执行。
c）
仪器记录的疑似缺陷部位，应采用正交扫查或多个方向扫查的方式进行核验，以确认缺陷的真
实性。
d）
8　检测结果评价与处理
8.1　检测数据评价
8.1.1　检测中出现的信号，除能证明是由被检测对象结构或其他原因引起的非相关信号外，其余信号均
应进行检测数据评价。
8.1.2　不可接受信号一般以对比试件中20% 深度的人工缺陷信号作为评价标准；有其他要求时，由检
测方和用户依据相关要求协商确定。
8.1.3　如出现不可接受信号，应进行正交扫查或其他多个方向扫查验证，以确认是否为真实缺陷。
8.1.4　判定为真实缺陷的，检测人员应将检测出的缺陷位置、信号幅度和相位等信息在工件和图纸上分
别做出标识，即为不可接受信号的位置和当量值。
8.2　不可接受信号处理
8.2.1　不可接受信号，应按NB/T 47013（所有部分）选择其他适当的无损检测方法进行缺陷尺寸的精
确测量。
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8.2.2　不可接受信号的处理方式由检测方和用户协商确定，真实缺陷是否影响设备安全运行，可按相关
标准进行合于使用评价。
9　检测记录和报告
9.1　应按照现场操作的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据，检测记录至少保存7 年。检测
时，如遇到不可排除因素的干扰，应在检测记录中注明。低频电磁检测记录至少应包括以下内容：
a） 记录编号；
b） 检测依据的指导文件；
c） 执行标准；
检测对象：承压设备类别，检测对象名称、编号、规格、工作介质及使用年限、材质、涂层厚
度、检测部位和检测重叠率、检测时的表面状态、检测时机；
d）
e） 检测仪器：仪器型号、仪器编号、检测传感器型号、扫查方式等；
f） 检测参数：检测阈值、激励频率、采样时间、增益等；
g） 数据文件名；
h） 不可接受信号及缺陷位置示意图和尺寸；
i） 检测日期、检测人员和校核人员。
9.2　应依据检测记录出具检测报告。低频电磁检测报告至少应包括以下内容：
a） 报告编号；
b） 执行标准；
检测对象：承压设备类别，检测对象名称、编号、材质、涂层厚度、检测部位和检测时的表面
状态；
c）
d） 检测仪器：仪器型号、仪器编号、检测传感器型号等；
e） 检测部位示意图，不可接受信号及缺陷位置示意图和尺寸；
f） 检测结论；
g） 编制日期、检测人员、审核人员签字。
9.3　检测记录和报告模板见附录B。
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附　录　A
（资料性）
检测区域划分与编号的示例
A.1　容器筒体检测区域划分与编号
容器筒体母材检测区域划分与编号以铭牌所在面为正面，按照顺时针的方向将筒体沿周向划分为
6 个检测区，分区对被检容器进行检测，沿轴向划分为1、2、3、…、n 个检测区域（每个区长度根据检
测仪器能力和被检测对象长度分段），纵横交叉形成网格检测区域。例如：2﹘3 表示第二行第3 个检测
区域。容器筒体检测区域划分与编号参照图A.1。
图A.1　容器筒体检测区域划分与编号示例
A.2　管道检测区域划分与编号
按照管内介质流动方向为正方向，沿周向将管子等分为4 个区，轴向以某一法兰为起点，沿着介质
流动方向将管子分为1、2、…、n 个检测区域（每个区域长度根据检测仪器能力和被检测对象长度分
段），纵横交叉形成网格检测区域。例如：2﹘3 表示第二行第3 个检测区域。管道筒体检测区域划分与
编号参照图A.2。
图A.2　管道检测区域划分与编号示例
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A.3　储罐底板检测区域划分与编号
底板母材检测区域划分与编号原则（以图A.3 最典型底板结构为参考），一般以人孔所在位置作为
编号起点，根据纵横焊缝交叉建立参考坐标系，具体的编号规则如下。
a） 边缘环板编号以人孔处边缘板为第一块（R1），然后顺时针依次编号（R2、R3、...、Rn）。
中幅板编号按照从上往下，从左至右的原则划分编号，按照A﹘B形式编号，其中A代表靠近人孔
侧的第n行（n=1、2、…），B代表靠近人孔侧的第p列（p=1、2、…），以靠近人孔侧为第
1行， 依次向下为第2行、… 、第n行。第1行编号： 从左往右为1 ﹘ 1 、1 ﹘ 2 、… 、1 ﹘ n；
第2行编号：2﹘1、2﹘2、... 、2﹘n；以此类推。
b）
储罐底板检测区域划分与编号参照图A.3。
图A.3　储罐底板检测区域划分与编号示例
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附　录　B
（资料性）
检测记录及报告
表B.1 和表B.2 分别给出了低频电磁检测记录和检测报告的模板。
表B.1　低频电磁检测记录表
记录编号：
使用单位 委托单位
检测依据的指导文件
设备名称 设备编号 设备类别
投用日期 设备规格 设备材质
工作温度 工作介质 工作压力
表面状态 涂层厚度 检测时机
检测部位 扫查方式 扫查重叠率
仪器型号 仪器编号 传感器型号
检测参数
检测阈值 采样时间
激励频率 增益/dB
校准试件 对比试件
检测标准 验收标准 校准结果
数据文件名
资料审查情况
历史缺陷情况
不可接受信号
序号检测区域编号缺陷编号位置
缺陷当量尺寸
mm
验证检测方法及
结果
检测示意图（检测部位、缺陷位置和尺寸）：
检测结论：
检测人： 年 月 日校核人： 年 月 日
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表B.2　低频电磁检测报告
报告编号：
使用单位 委托单位
记录编号
设备名称 设备编号 设备类别
设备材质 表面状态 涂层厚度
检测部位 扫查区域 扫查方式
仪器型号 仪器编号 传感器型号
校准试件
对比试件
检测标准
不可接受信号
序号检测区域编号缺陷编号缺陷位置缺陷当量尺寸/mm
检测示意图（检测部位、缺陷位置和尺寸）：
检测结论：
检测人： 年 月 日
检测单位章
审核人： 年 月 日
—
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