T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹(Mura)缺陷量化方法

团体标准
T/HBAI 001-2024
有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法
Organic light emitting diode displays – Quantitative evaluationmethods of surface Mura
2024-10-17 发布2024-10-25 实施
湖北省人工智能学会发布

目录
前言................................................................................................................................. - 4 -
有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法............................................. - 5 -
1. 范围....................................................................................................................- 5 -
2. 规范性引用文件................................................................................................- 5 -
3. 术语和定义........................................................................................................- 5 -
4. 略缩语................................................................................................................- 6 -
5. 主观实验方法....................................................................................................- 6 -
5.1 概述.............................................................................................................- 6 -
5.2 量化因素................................................................................................... - 7 -
5.3 限度样本选取实验....................................................................................- 8 -
5.4 双刺激度对照实验....................................................................................- 8 -
6. 多因素量化公式................................................................................................- 8 -
6.1 概述.............................................................................................................- 8 -
6.2 量化公式分析........................................................................................... - 8 -
6.3 结果表示................................................................................................. - 11 -
7. 量化神经网络..................................................................................................- 11 -
7.1 概述.........................................................................................................- 11 -
7.2 后台业务系统......................................................................................... - 12 -
8. 量化结果验证..................................................................................................- 13 -
8.1 概述.........................................................................................................- 13 -
8.2 评价指标................................................................................................. - 13 -
8.3 验证结果................................................................................................. - 13 -
8.4 对比实验结果......................................................................................... - 14 -
附录A ....................................................................................................................... - 15 -
A.1 概述................................................................................................................... - 15 -
A.2 Mura 缺陷类型...................................................................................................- 15 -
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B.1 概述................................................................................................................... - 16 -
B.2 灰度值排序....................................................................................................... - 17 -
B.3 双刺激度对照实验流程................................................................................... - 17 -
附录C （规范性附录） 神经网络量化算法.......................................................- 19 -
C.1 神经网络量化算法流程................................................................................... - 19 -
C.2 神经网络量化算法推荐使用参数................................................................... - 20 -
- 4 -
前言
本标准按照GB/T 1.1-2020给出的规则起草。
请注意本部分的某些内容可能涉及专利,本部分的发布机构不承担识别这些专利
的责任。
本标准由湖北省人工智能学会归口。
本标准主要起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数
字化设计与制造创新中心有限公司。
本标准主要起草人：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、
刘洒、林松、陈若愚。
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有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化方法
1. 范围
本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验
条件、方法。
本文件主要适用于有机发光二极管显示器。
2. 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的
版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适
用于本文件。
GB/T 20871.2-2007 有机发光二极管显示器第2部分：术语与文字符号
GB/T 20871.61-2013 有机发光二极管显示器第6-1部分：光学和光电参数测试方
法
20213159-T-339 有机发光二极管显示器件第6-2部分：测试方法——视觉质量和
亮室性能
GB/T 20871.63-2021 有机发光二极管显示器件第6-3部分：图像质量测试方法
3. 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件
5.2.1 主观量化实验
实验人员在一定条件下通过自己的主观感受对缺陷等级做出判断的实验。
5.2.2 目视检查
通过人眼观察显示器上的缺陷来进行缺陷等级评估的方法。
5.2.3 限度样本
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用于判定某一无法量化的质量特性的参考标准。
5.2.4 云纹缺陷
显示器局部的细微亮度或颜色变化区域。
5.2.5 线缺陷
显示器上可被观察到的平行于一行或列的水平或竖直的亮线或暗线缺陷。
5.2.6 点缺陷
显示器件上可被观察到的局部亮度轻微偏暗或偏亮的区域。
5.2.7 划痕缺陷
显示为单条或多条线或条状的缺陷，一般在暗背景下较明显。
5.2.8 对比度
显示器件中明暗区域最亮的白和最暗的黑之间不同亮度层级。
5.2.9 亮度云纹缺陷
除像素缺陷外，亮度与显示器件的背景不同的部分。
5.2.10 色度云纹缺陷
除像素缺陷外，色度与显示器件的背景不同的部分。
4. 略缩语
下列略缩语适用于本文件。
SEMI 国际半导体产业协会(Semiconductor Equipment and Materials
International)
CSF 对比度敏感函数(Contrast Sensitivity Function)
JND 最小可觉差(Just Noticeable Difference)
5. 主观实验方法
5.1 概述
为了获取人眼对Mura缺陷不同严重程度的评价数据，首先要进行主观量化实验来
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采集数据。国际电信联盟（International Telecommunication Union，ITU）发布了
一系列针对此类主观评价实验的建议和标准。Mura缺陷主观量化实验根据ITU标准的指
导进行设计。该实验采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。
除显示器件内部因素外，实验场景中的其他外部条件也会影响最终结果。因此，实验
根据Mura缺陷特性和人们日常使用手机的习惯，选择合适的客观因素进行控制。
5.2 量化因素
在本标准中，量化模型所选择的量化因素为对比度、尺寸及类型。
5.2.1 对比度因素
缺陷对比度因素会直接影响Mura缺陷的显著程度，因此作为首要考虑因素，其值
通过Mura缺陷区域内外平均灰度进行计算，同时为了减少全局光照不均带来的影响，
通常选取计算的整个背景区域替换为周围一定大小背景区域，平均对比度C由下式进行
计算：
� =
��
��
其中，��和��分别表示缺陷区域和背景区域的灰度均值。该方法适用于黑白Mura
缺陷区域对比度的计算，对于彩色Mura，通过亮度进行进行对比度计算。首先参照附
件B中图B.1色域转换的方式，将图片从RGB色彩空间转换为XYZ色域。在XYZ色域中，Y
分量表示亮度。平均对比度C由下式进行计算：
� =
��
��
其中，��和��分别表示缺陷区域和背景区域的亮度均值。
针对彩色Mura缺陷区域的平均对比度计算，本标准仅提供转换方法，其余因素的
选择可参考本标准。
5.2.2 尺寸因素
尺寸因素�通过计算缺陷区域�?�（灰阶差与背景不同的部分）的像素数量获得：
� =